本發明公開一種發光二極管失效分析解剖裝置,包括操作平臺、調溫加熱臺及體視顯微鏡;操作平臺設置加熱板,該加熱板與調溫加熱臺電連接,加熱板加熱發光二極管表面封裝膠體;操作平臺置于體視顯微鏡的視場范圍中。本發明還公開一種發光二極管失效分析解剖方法。本發明可以減少損傷LED芯片,提高失效異常分析的準確性,同時提高LED芯片解剖效率。
聲明:
“發光二極管失效分析解剖裝置和解剖方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)