本發明涉及OLED顯示器件的檢測領域,尤其涉及一種OLED顯示器件失效檢測探測系統,包括:混氣輸入裝置,探測器裝置,控制器及排氣裝置。本發明能檢測出水汽、氧氣、溫度、交直流對OLED等薄膜半導體器件效率的影響結果,篩選出有效的封裝材料及結構,同時,也可以從氣氛、溫度、濕度、電流等多角度、全方面地進行故障分析,從而實現OLED顯示器件造價低、功能多、使用成本低的特點,進而滿足大部分科研及工業生產需要。另,本發明還提供了一種OLED顯示器件失效的檢測方法。
聲明:
“OLED顯示器件失效檢測探測系統及其檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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