本實用新型涉及技術領域,且公開了一種多MOS并聯失效的檢測電路及設備,包括NMOS低端保護電路以及PMOS高端保護電路,所述NMOS低端保護電路上電連接有NMOS低端檢測電路,所述PMOS高端保護電路上電連接有PMOS高端檢測電路,所述NMOS低端保護電路包括第一運算放大器U1A、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻Rf以及電阻RF,所述PMOS高端保護電路包括第二運算放大器U1B、電阻R1a、電阻R2a、電阻R3a、電阻Rf1以及電阻RF1,還包括一種多MOS并聯失效的檢測設備,該設備包括上述的多MOS并聯失效的檢測電路。本實用新型能夠對多并串保護板中的并聯的所有MOS管進行實時的檢測,并能夠將檢測到的信息通過LED燈實時顯示出來,有效提高保護板的產品質量。
聲明:
“多MOS并聯失效的檢測電路及檢測設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)