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    芯片短路失效檢測系統及方法

    860   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:59:31
    本發明公開了一種芯片短路失效檢測系統及方法,其中該系統構包括有指令處理模塊、數據存儲模塊、固件更新模塊、電源電壓控制模塊、失效檢測模塊及過沖電壓控制模塊,所述指令處理模塊、數據存儲模塊、固件更新模塊、電源電壓控制模塊、失效檢測模塊及過沖電壓控制模塊均設置于嵌入式微處理器中。本發明解決了失效分析對測試機臺的依賴,方便用戶使用,攜帶方便,引入自動化測量及修復方法,實現對芯片自動化控制,具備多種短路失效分析模式和自適應電壓對沖技術等自動化檢測和修復機制,解決人員重復勞動和效率低下問題,整個過程減少人參與,大大提高工作效率。
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