本發明公開了一種高集成型分析物檢測系統,包括:底殼;探頭結構,探頭結構與底殼互相卡合,探頭結構包括探頭和探頭基座,探頭包括信號輸出端和檢測端,信號輸出端向靠近探頭基座的頂部表面的方向彎曲或彎折,信號輸出端表面至少設置兩個互相絕緣的第一電連接區;和發射器,發射器與底殼互相卡合,發射器設置有與第一電連接區相對應且互相絕緣的第二電連接區,每個第二電連接區與對應的第一電連接區電連接。內部緊湊的結構使檢測系統體積更小,增強了用戶體驗。
聲明:
“高集成型分析物檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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