本發明涉及一種失效運算放大器表面態缺陷的檢測方法,包括以下步驟:S1:分別對正常運算放大器和失效運算放大器加電,獲取兩個運算放大器均處于正常工作狀態下的端口間的初始漏電流值;S2:對兩個運算放大器持續加電,判斷兩個運算放大器端口間的漏電流值的變化,若正常運算放大器端口間的漏電流值無明顯變化,失效運算放大器端口間的漏電流值逐漸增加,則執行S3;S3:對失效運算放大器進行高溫貯存,若失效運算放大器端口間的漏電流值恢復到初始漏電流值,執行S4;S4:定位并基于失效運算放大器中的漏電單元,分析并確定運算放大器的失效是否由表面態缺陷所致。與現有技術相比,本發明能夠準確定位運算放大器的失效是否由于表面態缺陷所致。
聲明:
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