本申請實施例提供了一種由晶片污染引起的晶振跳頻失效的檢測方法、裝置、系統、電子設備及計算機可讀存儲介質,涉及晶片污染檢測的技術領域。該方法包括:待檢測的晶振放置在恒溫箱中,晶振的表面貼附有熱電偶;在恒溫箱的溫度為第一溫度時,獲取由熱電偶采集的溫度和晶振的相應頻率;在恒溫箱的溫度調整至第二溫度時,以預定頻率獲取由熱電偶采集的溫度和晶振的相應頻率,直至熱電偶處于熱平衡狀態時停止獲??;根據由熱電偶采集的溫度和晶振的相應頻率,以及晶振的標稱頻率和預設的頻率偏移范圍,確定晶振是否存在跳頻失效。本申請實施例提供的方法可以在無需剖片、無需在特定的溫度點長時間保溫的情況下,即可高效檢測晶振的跳頻失效。
聲明:
“由晶片污染引起的晶振跳頻失效的檢測方法、裝置和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)