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    芯片指令高速緩存失效的檢測方法及系統

    731   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:59:32
    本發明提供一種芯片指令高速緩存失效的檢測方法,所述方法為:1、在芯片指令高速緩存中預設復數個最小指令單元,2、根據宏函數的遞歸性,逐級創建宏函數單元,各級宏函數單元包裹有最小指令單元,且每一級宏單元不斷的包裹前一級宏單元構成了一大函數,3、CPU內的邏輯運算單元ALU從高速緩存中獲取大函數中所有的最小指令單元的指令進行執行,邏輯運算單元ALU訪問高速緩存的每個比特,大函數中的指令會依次執行,大函數執行完成,則整個芯片指令高速緩存進行了遍歷;4、根據大函數是否完成即能判斷芯片指令高速緩存是否失效或者異常。本發明還提供了一種芯片指令高速緩存失效的檢測系統,本發明提高檢測效率,加快芯片檢測的流通環節,省時省力。
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