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    用于SIM卡失效檢測的方法、裝置及產品

    1221   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:59:32
    本申請公開用于SIM卡失效檢測方法,包括:將測試模塊放置在設備的高溫高濕內腔中;采用測試模塊連接SIM卡的六個功能區的電極;采用提示模塊獲得SIM卡的工作狀態;采用控制模塊控制裝置的控制界面;測試模塊包括測試底板、載帶齒孔、探針放置板、彈性探針和操作手柄,測試底板被用于平行放置不多于2條SIM卡載帶,載帶齒孔被設置于測試底板上,載帶齒孔被用于將SIM卡固定在測試底板上,探針放置板被設置于測試底板的上方,彈性探針被設置于探針放置板上,彈性探針被用于在探針放置板被下壓時連接測試底板上SIM卡的功能區電極,操作手柄被用于控制所述探針放置板上下移動。本申請還公開一種用于SIM卡失效檢測的裝置及產品。
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    聲明:
    “用于SIM卡失效檢測的方法、裝置及產品” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
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