本申請公開了一種存儲器芯片測試的失效比特圖制作方法、裝置及電子設備。該方法包括:將被測試存儲器芯片的每個存儲庫劃分為第一數目個單位區域;從所述芯片中任選一個未被測試的存儲庫,在第一存儲器中確定一存儲空間,將存儲空間劃分為第一數目個單元;依次對被選的存儲庫中的各單位區域進行測試;根據在一個單位區域內檢測到第一個失效比特,即在存儲空間中標記出失效單元;根據被選的存儲庫中所有單位區域均被測試完成,轉向從所述芯片中任選一未被測試的存儲庫,直至所述芯片中的存儲庫均被測試完為止;利用各失效單元構建第一失效比特圖。本申請的方法大大簡化了制作流程,縮短了失效比特圖的制作耗時,提高了工作效率,降低了生產成本。
聲明:
“存儲器芯片測試的失效比特圖制作方法、裝置及電子設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)