本發明涉及一種SRAM型FPGA單粒子軟錯誤與電路失效率關系快速測定方法,步驟如下:(1)選定初始向配置區注入的翻轉位數N;(2)隨機選擇FPGA配置區N位進行故障注入,運行FPGA,記錄FPGA輸出是否出現錯誤;(3)重復第(2)k次,直到失效率在30%到70%;(4)根據實際條件,按照最終選定的N,進行盡量多次的故障注入,獲得較好的統計性,推薦注入以N位隨機翻轉的故障注入試驗次數不的小于30次;(5)最終得到注入N位隨機故障后電路失效率為λN,然后用1?(1?λN)M/N估計電路的失效率上限,得到電路設計的SEU數目M?電路失效率λM評估結果。采用本發明的方法通過次數很少的故障注入,即可對FPGA電路設計抗SEU性能作出有效評價,大大減少了實驗的次數和評估的周期。
聲明:
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