一種芯片失效參數的預測方法,包括:提供若干測試芯片;對若干測試芯片進行失效測試,獲取N個測試數據;對N個測試數據進行分段處理,獲取n個模型數據段,每段所述模型數據段中包括Mi個所述測試數據;獲取每段所述模型數據段的線性擬合模型;獲取每段模型數據段相對于所述測試數據的模型占比;根據每段所述模型數據段的線性擬合模型和每段所述模型數據段的模型占比,獲取芯片預測失效模型。通過將每段模型數據段下的線性擬合模型均考慮進去,并按照對應的模型占比獲得權重,使得最終獲取的芯片預測失效模型更為全面的反應出若干所述測試數據的分布特點,進而使得后續通過所述芯片預測失效模型所獲取的芯片預測失效參數的精確度也有效提升。
聲明:
“芯片失效參數的預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)