• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 半導體模塊焊層壽命失效的測試方法

    半導體模塊焊層壽命失效的測試方法

    823   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:59:34
    本申請涉及一種半導體模塊焊層壽命失效的測試方法,包括:根據待測半導體模塊的規格確定參考溫度數據;所述參考溫度數據是同規格的半導體模塊所對應的溫度標定數據;獲取待測半導體模塊的初始溫度數據;所述初始溫度數據是待測半導體模塊在全新狀態下進行溫度測試的數據;對待測半導體模塊進行溫度測試,獲取當前溫度數據;根據初始溫度數據、當前溫度數據和參考溫度數據,判斷待測半導體模塊的焊層壽命是否失效。本申請的測試方法在完整功率模塊上進行,不需要將待測半導體模塊從功率模塊中拆下,省時省力;也不會發生由于拆解及安裝導致的模塊及其它部件損壞;本方案不需要熱阻、超聲波掃描等相關設備投入,降低測試成本。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “半導體模塊焊層壽命失效的測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>