一種新的電子產品失效率預計修正方法,它有三大步驟:步驟一:預計單元元器件分析,得到預計單元的組成元件的組成,并得到每個組成元件的基本信息;步驟二:通過電應力自動仿真的方法得到預計單元在正常工作狀態下每個組成元件的電應力值,代入手冊中給出的電應力參數模型得到預計單元每個元件的電應力參數;步驟三:失效率預計展開。通過本發明可以得到方法簡單并且結果準確的預計結果,能夠為電子產品的準確而方便的預計提供方法支撐。它在電子產品可靠性預計技術領域里有較好的實用價值和廣闊地應用前景。
聲明:
“新的電子產品失效率預計修正方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)