本公開關于一種觸控芯片失效處理方法及裝置,屬于觸控技術領域。所述方法用于包含觸摸屏的終端中,所述觸摸屏包含所述觸控芯片,包括:每隔預定周期獲取所述觸控芯片的工作參數;根據所述工作參數檢測所述觸控芯片是否失效;當根據所述工作參數檢測出所述觸控芯片失效時,對所述觸控芯片進行復位。本公開可解決通過重啟終端來復位觸控芯片,使得復位觸控芯片所需消耗的時間較多的問題,可達到提高觸控芯片的復位效率的效果。
聲明:
“觸控芯片失效處理方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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