本申請公開了一種失效電容定位儀及定位方法,包括:用于承載PCB基板1的PCB板載具2,設置于PCB板載具2上用于支撐第一導向結構3的支架4,第一導向結構3用于實現第二導向結構5移動,第二導向結構5安裝于第一導向結構3上用于為承載加熱裝置6的支架4提供移動能力,支架4設置于第二導向結構5上用于承載加熱裝置6,加熱裝置6用于對PCB基板1上的電容進行加熱,通過第一導向結構3與第二導向結構5使加熱裝置6能夠對準PCB基板1上任一位置進行加熱。本申請的失效電容定位儀可以承載待檢測的PCB基板1,并且利用支架4、第一導向結構3和第二導向結構5,能夠讓支撐架7上的加熱裝置6移動至任何PCB基板1上所需加熱的地方,提高了檢修效率。
聲明:
“失效電容定位儀及定位方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)