本發明公開了一種失效點定位方法、裝置、系統及存儲介質,該方法包括:在待測產品的金屬層上覆蓋第一厚度的透光膜層的情況下,根據與第一厚度相對應的第一頻率,向待測產品施加第一偏置電壓;獲取待測產品的第一熱成像圖,并根據第一熱成像圖確定第一異常區域以及第一非異常區域;根據第一異常區域,確定待測產品的失效點對應的待檢測區域。通過本發明實施例的技術方案,實現了準確且便捷的確定待測產品中的失效點所在區域的效果。
聲明:
“失效點定位方法、裝置、系統及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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