本發明提供了一種發光二極管早期失效的篩選方法,涉及發光二極管應用技術領域,解決了現有單一試驗無法有效篩選出發光二極管不良的技術問題。該方法在抽取樣品后進行回流焊實驗、波峰焊實驗、高溫實驗、溫度沖擊實驗和高溫水煮實驗中的至少兩項篩選實驗,再檢測篩選不良品。對樣品進行回流焊實驗、波峰焊實驗、高溫實驗、溫度沖擊實驗和高溫水煮實驗中的至少兩項篩選實驗,與傳統的僅進行單一篩選實驗的方法相比,通過至少兩項篩選實驗使發光二極管的早期失效問題明顯地暴露出來,以便更有效地篩選出不良品,隱避缺陷也能很好地篩選出,提高發光二極管重大隱蔽性質量缺陷的篩選不良檢出率,提高了電器產品的整體質量和可靠性,降低了售后維修率。
聲明:
“發光二極管早期失效的篩選方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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