本發明提供了一種獲取非揮發存儲器中失效二進制位分布信息的方法,對非揮發存儲器的模塊進行測試,確定失效的模塊,并得到失效模塊的失效類型與相應的失效地址信息;提供一個測試命令集,分別采用測試命令集內的每一個測試命令,對失效類型與該測試命令相對應的失效模塊中的二進制位進行測試,確定失效二進制位的地址和失效類型。本發明還提供了一種獲取非揮發存儲器中失效二進制位地址分布信息的裝置。本發明提供的技術方案可以節約測試時間,降低測試對器件的損傷。
聲明:
“獲取非揮發存儲器中失效二進制位分布信息的方法與裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)