本發明涉及一種微控制器總劑量輻照失效單元實驗判定系統及方法,所述實驗判定系統包括被測微控制器、數據采集單元、通訊和供電單元、上位機、準直定位照射單元、跟隨劑量計和屏蔽體;所述實驗判定方法采用同一型號、同一批次的微控制器分為三組實驗樣品,進行單一變量控制實驗。本發明提供的微控制器總劑量輻照失效單元實驗判定系統及方法能夠通過控制單一實驗變量來分辨微控制器的內部失效單元,確定微控制器的輻照敏感部位,彌補傳統功能校驗方法的不足。
聲明:
“微控制器總劑量輻照失效單元實驗判定系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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