本申請公開了一種樣本分析裝置及級聯樣本分析系統。該樣本分析裝置包括:主機;冷藏組件,活動地設置于主機上;冷藏組件包括試劑冷藏室和制冷模組,制冷模組與冷藏室連接,用于向冷藏室供冷;其中,樣本分析裝置具有第一狀態和第二狀態,在第一狀態下,冷藏組件收容于主機內;在第二狀態下,冷藏組件伸出于主機外。通過上述方式,本申請所提供的樣本分析裝置能夠全程提供給試劑良好的冷藏環境,減小其因溫變而失效的風險。
聲明:
“樣本分析裝置及級聯樣本分析系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)