• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 半導體芯片結構參數分析方法

    半導體芯片結構參數分析方法

    1127   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:59:58
    本發明公開了一種半導體芯片結構參數分析方法,包括:確定半導體芯片所使用的安裝材料,采用與所述安裝材料相對應的獲取方式,從器件中獲取至少兩個版圖信息一致的半導體芯片;對獲取到的至少兩個半導體芯片中的第一半導體芯片進行橫向去層,并識別各層結構信息,得到第一半導體芯片的橫向結構信息;對獲取到的至少兩個半導體芯片中的第二半導體芯片進行縱向剖面制作,并識別得到第二半導體芯片的縱向結構信息;根據橫向結構信息和縱向結構信息,確定半導體芯片的結構參數。通過本發明可以獲取每層芯片的版圖結構和芯片縱向的結構參數,為芯片失效分析、結構分析和芯片設計提供技術參考。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “半導體芯片結構參數分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>