本發明實施例公開了一種存儲器芯片的檢測方法、檢測裝置和檢測系統,該檢測方法包括:當存儲器芯片上電初始化后,根據接收的使能信號控制存儲器芯片自動進行早期失效測試流程;如果檢測到存儲器芯片自動進行的早期失效測試流程的次數達到預設測試次數,則判定存儲器芯片為良品。本發明中存儲器芯片與檢測裝置一一對應設置,量產的存儲器芯片可通過各自對應的檢測裝置自行進行失效檢測,因此檢測并行度高、適用于大規模量產的存儲器芯片的檢測,存儲器芯片在使能信號的控制下自動進行早期失效測試流程且不需要指令控制,因此檢測耗時短,以及存儲器芯片僅需要探針卡供電且不需要探針卡的指令控制信號,因此節省了探針卡的成本。
聲明:
“存儲器芯片的檢測方法、檢測裝置和檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)