現有的半導體工藝中,由于馬達設置在密封腔內,因而針對某些馬達被鎖定誤判為性能失效的情況,通常需打開密封腔以進行檢測,上述打開密封腔需中斷制程,耗時且麻煩。針對上述問題,本發明提出一種馬達的檢測裝置及檢測馬達性能的方法,在現有的馬達驅動電路基礎上,再設置一套與馬達相連的檢測電路,以備馬達在某一位置臨時被鎖定而非馬達自身性能失效后,不打開密封腔,采用額外設置的檢測電路對馬達進行驅動。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)