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    銅連接孔刻蝕不足缺陷在線檢測方法

    1185   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:59:59
    本發明涉及一種銅連接孔刻蝕不足缺陷在線檢測方法,用于在CMOS器件制備工藝中檢測銅連接孔刻蝕不足缺陷,包括如下步驟:以電子束掃描儀掃描多枚CMOS器件表面區域,檢測出各暗電壓對比度缺陷區域,同時通過失效分析分別識別各暗電壓對比度缺陷的類別,建立一暗電壓對比度缺陷類別與缺陷區域圖像灰度特征的對應關系;以電子束掃描儀掃描待檢測CMOS器件一表面區域,確定有無暗電壓對比度缺陷區域,若有,則提取該缺陷區域圖像灰度特征;根據對應關系進一步識別該缺陷區域是否為銅連接孔刻蝕不足缺陷;切換至另一表面區域繼續掃描。該方法可快速識別出CMOS器件中可能存在的銅連接孔刻蝕不足缺陷,其識別準確率高、檢測速度快。
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