本發明涉及一種基于預載程序動態信號檢驗的STM32總劑量效應測試方法,所述測試方法基于測試系統進行,所述測試系統包括載有STM32芯片的最小電路,用于信號傳輸的通訊模塊和用于接收信號的上位機;預載程序包含信號處理校驗、存儲校驗和通信校驗功能;測試方法包括如下步驟:布置測試系統、輻照前參數校驗、輻照及在線功能監測、輻照結束、輻照后參數校驗、損傷分析。本發明提供的測試方法一方面通過構建最小系統得出芯片在實際運行工況下的輻照損傷劑量,另一方面通過預載程序的多種動態信號檢驗功能對芯片內部各個器件的工作狀態進行監控,得出STM32芯片具體的輻照失效模式和內部各器件的耐輻照能力高低。
聲明:
“基于預載程序動態信號檢驗的STM32總劑量效應測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)