本發明公開了一種基于神經網絡預測的IGBT模塊狀態檢測系統及方法,包括構建BP神經網絡;以集電極?發射極電壓VCE、集電極電流IC、感應電壓VeE、開關頻率fPWM、殼溫T參量作為系統輸入量,分別進行歸一化處理;數據輸入步驟1得到的BP神經網絡,輸出IGBT模塊狀態。本發明揭示了IGBT器件失效演化規律,提出了基于IGBT結溫的IGBT器件健康狀態的三個等級,分別為正常(N)、中度退化(M)和重度退化(S),從而更加精準的反映IGBT老化程度。
聲明:
“基于神經網絡預測的IGBT模塊狀態檢測系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)