• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > 芯片檢測方法

    芯片檢測方法

    1072   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:00:01
    一種芯片檢測方法,包括,根據芯片中所有邏輯單元的數量、檢測芯片所有邏輯單元時允許失效的邏輯單元的數量以及作為本批次檢測樣本的芯片數量,獲得達到本批次芯片檢測要求的單個芯片邏輯單元的失效概率;保持作為檢測樣本的芯片數量不變,根據所述單個芯片邏輯單元的失效概率獲得能夠達到本批次芯片檢測要求的單個芯片中邏輯單元的檢測數及對應的允許失效的邏輯單元的數量的檢測數據;選取具有最少邏輯單元檢測數及對應允許失效邏輯單元數量的一組檢測數據,來對芯片進行檢測。所述芯片檢測方法節省了檢測時間,并且使得芯片產品大規模生產的時間提前,從而提高了代工廠芯片的生產效率。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “芯片檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>