一種芯片檢測方法,包括,根據芯片中所有邏輯單元的數量、檢測芯片所有邏輯單元時允許失效的邏輯單元的數量以及作為本批次檢測樣本的芯片數量,獲得達到本批次芯片檢測要求的單個芯片邏輯單元的失效概率;保持作為檢測樣本的芯片數量不變,根據所述單個芯片邏輯單元的失效概率獲得能夠達到本批次芯片檢測要求的單個芯片中邏輯單元的檢測數及對應的允許失效的邏輯單元的數量的檢測數據;選取具有最少邏輯單元檢測數及對應允許失效邏輯單元數量的一組檢測數據,來對芯片進行檢測。所述芯片檢測方法節省了檢測時間,并且使得芯片產品大規模生產的時間提前,從而提高了代工廠芯片的生產效率。
聲明:
“芯片檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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