本發明涉及電子器件輻射效應領域,特別是涉及一種大氣中子下SRAM單粒子效應檢測數據區分方法和系統,通過對SRAM器件進行大氣中子單粒子效應實時檢測,獲取所述SRAM器件的總失效率;獲取所述SRAM器件由阿爾法粒子導致的第一失效率;獲取所述SRAM器件由熱中子導致的第二失效率;根據所述總失效率、所述第一失效率和所述第二失效率獲取所述SRAM器件由大氣中子導致的目標失效率。本方案可區分SRAM器件大氣中子單粒子效應實時測量試驗數據中阿爾法粒子、熱中子和大氣中子三種成份各自的貢獻,從而獲得大氣中子導致的SRAM器件單粒子效應失效率,從而提高SRAM器件大氣中子單粒子效應敏感性的定量評價結果的準確性。
聲明:
“大氣中子下SRAM單粒子效應檢測數據區分方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)