本發明提供了一種內存檢測方法及裝置,其中,方法包括:S0:確定待測內存中對應同一個失效數據位的待測內存顆粒的數量,以及確定每一個待測內存顆粒的位置參數;并根據待測內存顆粒的數量確定至少一個檢測參數;S1:根據每一個檢測參數的大小,選擇一個未被選擇過的一個檢測參數;S2:根據選擇的檢測參數,修改待測內存的有效訪問區域;S3:根據修改后的有效訪問區域,訪問待測內存,并形成訪問結果;S4:判斷訪問結果是否為預設訪問結果,如果是,則執行步驟S1;否則,執行步驟S5;S5:根據選擇的檢測參數,以及每一個待測內存顆粒的位置參數,確定故障內存顆粒。通過本發明的技術方案,可更為準確的檢測出內存的故障內存顆粒。
聲明:
“內存檢測方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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