一種電解電容壽命快速檢測設備,包括測試電容TEST_C1、測試電容電路及與所述測試電容電路連接的顯示控制電路;所述測試電容TEST_C1通過所述測試電容電路的較大的紋波電流,表現出不同的發熱程度,最終導致防爆閥打開容量失效,測試的這段時間即為測試電容TEST_C1的快速測試壽命時間,且通過所述顯示控制電路顯示;本實用新型可實現快速檢測電解電容使用壽命及檢測電解電容動態參數的目的。
聲明:
“電解電容壽命快速檢測設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)