本申請提供一種光耦繼電器壽命的檢測方法、裝置、終端設備及存儲介質,其中,光耦繼電器壽命的檢測方法包括步驟:確定待測光耦繼電器的初始參數;在一定的溫度和濕度條件下對待測光耦繼電器進行加電偏置試驗,過程參數并在試驗過程中監測光耦繼電器開啟電壓的退化情況;測試待測光耦繼電器在加電偏置結束時的開啟電壓,并作為試驗后的參數;根據初始參數、過程參數和試驗后的參數構建退化模型;根據退化模型、初始參數計算待測光耦繼電器退化至失效所需的時間。本申請能夠實現便于檢測光耦繼電器壽命。
聲明:
“光耦繼電器壽命的檢測方法、裝置、終端設備及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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