本實用新型提供了貼片封裝半導體元器件特性不良的檢測電路,貼片封裝半導體元器件具有與載片區連接的引腳,也具有載片區外的引腳,載片區外的引腳通過引線連接載片區的銀漿或焊料,銀漿或焊料連接芯片,芯片連接與載片區連接的引腳,其特征在于:將所述與載片區連接的引腳和載片區外的引腳之間連接一個具有微小電流和鉗制電壓的電流源,同時在所述與載片區連接的引腳和載片區外的引腳之間再連接一個用于對兩個引腳之間的電壓進行檢測的電壓表;通過電壓表所測得的電壓值可快速、準確地篩選出特性不良的元器件,同時不會造成產品的損壞和影響其它參數的檢測;通過本實用新型篩選后的元器件,質量好,可減少客戶端應用失效的機率。
聲明:
“貼片封裝半導體元器件特性不良的檢測電路” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)