一種三態內容可尋址存儲器的測試電路,包括掃描鏈、向量生成電路、TCAM陣列模塊、優先級編碼器、測試結果分析電路和修復電路,掃描鏈將測試圖形輸入到優先級編碼器輸入端,向量生成電路提供各種測試圖形給TCAM陣列和優先級編碼器,測試結果分析電路通過分析優先級編碼器的輸出信號來完成測試和故障定位,修復電路則根據向量分析電路得出的故障定位信息來修復失效的單元。本發明還公開了利用上述測試電路來修復可尋址存儲器的方法,通過插入向量生成電路,掃描鏈,分析優先級比較器的輸出信號,先后完成優先級比較器測試,搜索不匹配測試和搜索匹配測試,并能對失效單元進行定位,完成電路的修復。
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