本發明提出一種微電路測試中動態修改測試程序極限值的方法,包括下列步驟:對微電路進行老煉前電測試,記錄產品測試數據;對該批次微電路按照老煉條件進行老煉試驗;提取老煉前電測試的產品測試數據,參照電參數允許變化范圍動態修改測試程序的極限值;對該顆成品微電路進行老煉后電測試,根據修改后的測試項條件判斷結果并生成參數偏移量計算結果進行提交。本發明提出的微電路測試中動態修改測試程序極限值的方法,通過動態修改測試程序極限值的實現,解決在量產過程中保證老煉后時效性的前提下,進行老煉參數偏移量計算、失效分析,并實現自動量產,提高產品質量和量產效率。
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