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    快速的集成電路測試流程優化方法

    1050   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:00:11
    一種快速的集成電路測試流程優化方法,通過對測試項目重排序,減少了失效芯片的測試時間。包括步驟:S10:確定驗證分析階段測試向量和測試流程;S20:確定的測試向量和測試流程對芯片進行驗證分析并得到原始的通過/失效測試信息表;S30:調用轉換程序將通過/失效測試信息表轉化為測試項目有效性表;S40:應用基于測試效率系數的排序方法,對測試項目進行優化,得到一個優化的測試流程。本發明提出的優化方法具有簡單、易于實現且優化速度快的特點。優化速度快使得本發明特別適合應用于現代SOC測試中測試項目一般都比較多的情況。
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