本發明公開了一種半導體激光器壽命測試裝置,包括光學平臺,光學平臺上設有平行導軌和激光器水冷陣列;平行導軌上設有電動平移臺,電動平移臺上固定著積分球和功率探測PD,積分球通過光纖連接有光譜儀,光譜儀連接至工控機上;功率探測PD通過采集卡與工控機連接;激光器水冷陣列的旁側設有溫度采集模塊,溫度采集模塊連接至工控機;電動平移臺通過控制電纜連接平移臺控制器,平移臺控制器連接到工控機上。該系統可針對不同封裝類型、不同功率及數量的激光器產品進行自動參數測試。在工作過程中自動對所測激光器產品的功率及光譜信息進行采集并記錄,并可進行自動報表打印數據,形成測試報告,為激光器產品失效分析及研究提供依據。
聲明:
“半導體激光器壽命測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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