本發明適用于電子產品的測試技術領域,公開了一種低溫測試裝置及測試方法。上述低溫測試裝置包括制冷劑供應裝置、容器和溫度探測裝置,所述容器通過輸入管連接于所述制冷劑供應裝置,所述容器上還連接有與外界相通的輸出管。上述測試方法包括以下步驟,將容器的底部抵壓于待測試的器件上;制冷劑供應裝置通過輸入管將制冷劑輸入容器中,增大制冷劑的流量進一步降低待測試器件的溫度,直到所述器件失效并記錄所述器件失效時溫度探測裝置讀取的溫度。本發明所提供一種低溫測試裝置及測試方法,其可以有效、方便、準確地對局部器件進行低溫可靠性測試,測試精確度佳。
聲明:
“低溫測試裝置及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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