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    測試智能卡可靠性的方法

    1129   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:00:14
    本發明針對智能卡在生產、制造和應用過程中,因應用環境不穩定導致產品性能劣化或功能失效的現象提出了一種測試智能卡可靠性的方法。本方法的測試流程包括:(1)生成測試卡;(2)通過讀卡設備,在測試卡電源管腳施加穩定直流電壓偏置測量電流ICC1;然后由干擾電路對測試卡電源管腳輸入干擾信號,測量電流ICC2,如果ICC2超過正常電流值ICC1的5倍,則中止測試,判斷測試失敗;如果ICC2在正常電流值ICC1的5倍以內,則繼續后面的檢驗步驟;(3)干擾測試完成后,檢驗測試卡的性能和功能,如果測試卡的性能劣化或功能失效,則測試結果判定為樣品未通過測試;如果測試卡性能和功能正常,則測試結果判定為樣品通過測試。
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