• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 失效分析技術

    > OTP型MCU在未預留測試接口情況下的量產測試方法

    OTP型MCU在未預留測試接口情況下的量產測試方法

    973   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:00:14
    本發明公開了一種OTP型MCU在未預留測試接口情況下的量產測試方法,該方法在CP1階段中,在程序區模擬一個測試接口,與量產ATE設備進行通信;同時,在CP1、CP2階段將校準區的有用信息存儲下來到公共網絡端,在UV之后的CP3階段,再將對應的公共網絡端的有用信息寫入到OTP存儲區。本發明通過模擬測試接口實現對待測模塊的訪問,并與ATE設備進行通信,解決了OTP型MCU因沒有測試接口導致無法量產測試的問題,解決OTP型MCU在某個測試接口失效導致無法測試的問題。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “OTP型MCU在未預留測試接口情況下的量產測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    失效分析
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>