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    用于監測集成電路上金屬退化的電路

    1083   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:00:15
    本發明涉及用于監測集成電路上金屬退化的電路。一種集成電路(IC),具有諸如功率MOSFET的熱發生元件、耦合到熱發生元件的載流導體、鄰近載流導體的感測導體以及耦合到感測導體的失效檢測電路。當IC的熱循環導致感測導體的電阻變得大于依賴于溫度的閾值時,失效檢測電路生成信號,該信號指示集成電路將不久失效。由通過將電流注入到感測導體中以生成電壓來確定感測導體的電阻。依賴于溫度的閾值是通過將電流注入到被布置得遠離載流和感測導體的參考導體中所生成的電壓。電壓比較器比校兩個電壓以生成輸出。替代地,失效檢測電路包括處理器,該處理器從在集成電路上采取的溫度測量計算依賴于溫度的閾值。
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