本實用新型公開了一種電路板IO連通性的測試裝置,測試裝置包括測試控制模塊、數據處理模塊、數據校驗模塊、IO測試板。其中,數據處理模塊通過IO接口信號連接至IO測試板,并配置輸出IO管腳的電平狀態,數據校驗模塊用于檢測被測模塊電路上任一路輸入IO管腳的開路或短路的狀態。本發明的測試裝置用于電路板上MCU或FPGA芯片的IO與所連接的接插件的連通性測試,能準確檢測出IO的開路或是相臨兩個IO的短路問題,快速定位電路板焊接或芯片IO失效問題,加快生產和測試效率。
聲明:
“電路板IO連通性的測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)