本發明涉及測試SRAM的方法、裝置、計算機設備及存儲介質;其中,方法,包括:對待測試的內存進行標識,生成測試數據;對待測試的內存進行讀操作,獲取讀數據;將測試數據與讀數據進行比較測試,獲取比較測試結果,并輸出比較測試結果至待測試的內存。本發明支持在運行真實應用場景的時候,同時測試相關的SRAM,用于支持檢測一些極端環境引發的問題,能夠迅速排查是否是SRAM失效引起的,也可以用于工藝角在實際應用場景中可能帶來的問題,能夠使mbist測試更健壯,實際使用靈活,能夠更好地滿足需求。
聲明:
“測試SRAM的方法、裝置、計算機設備及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)