本發明公開了一種基于門控遞歸單元神經網絡的電子器件剩余壽命預測方法,包括:獲得電子器件在相同條件下的多組老化數據;對多組老化數據進行預處理;根據預處理后的老化數據以及電子器件失效機理獲得失效變量;根據預處理后的老化數據建立門控遞歸單元神經網絡老化模型;根據門控遞歸單元神經網絡老化模型獲得失效變量的預測變化值,結合設定的失效閾值,獲得電子器件的剩余壽命。本發明提供的電子器件剩余壽命預測方法,通過構建門控遞歸單元神經網絡老化模型預測電子器件的剩余壽命,綜合考量了老化數據中各失效變量對電子器件剩余壽命的影響而進行預測,同時考慮到老化數據的時序特征,充分挖掘了老化數據中的信息,預測精度高,可靠性強。
聲明:
“基于門控遞歸單元神經網絡的電子器件剩余壽命預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)