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    電子產品分數階神經網絡性能退化模型及壽命預測方法

    837   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:00:19
    本發明公開了一種電子產品分數階神經網絡性能退化模型及壽命預測方法,具體步驟為:(1)對受試電子產品進行恒定應力加速壽命試驗,獲得不同應力等級下的性能退化數據;(2)使用(1)步中得到的性能退化數據,利用灰色理論中的GM(1,1)模型計算得到待預測應力T0下的性能退化數據;(3)利用(2)步中得到的應力T0下的性能退化數據訓練分數階神經網絡;(4)利用(3)步中訓練好的分數階神經網絡進行滾動多步預測;(5)將(4)步中的預測值與電子產品的失效閾值相比較,預測失效時間,從而確定電子產品壽命。本發明的電子產品壽命預測方法,適用于在不同應力下建立性能退化模型,無需考慮電子產品的失效機理,實現簡單,預測精度高。
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