本發明提供了一種芯片篩選測試的方法,包括:建立芯片測試的智能學習模型;將每個所述芯片的待測試參數進行分類,并將所述待測試參數按照分類號依次排列;按照排列好的順序依次測試所述待測試參數,將測試結果使用智能學習模型進行處理,預測各個待測試參數失效的概率,將概率最大的待測試參數的分類號提到排列順序的前列,以使得概率最大的待測試參數優先測試。本發明通過智能學習模型將目前已經測試的待測試參數的測試結果經過處理輸出待測試參數的失效率,將失效率大的測試參數提到前列,在之后的測試過程中優先測試,可以減少芯片的測試時間,提高芯片的測試效率。
聲明:
“芯片篩選測試的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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