本發明公開了一種基于退化曲線相似度的射頻電路健康度預測方法,先根據預定的退化參數確定測量的信號參數,然后訓練得到各個信號參數對應的失效臨界態的隱馬爾可夫模型,將實際測量的各信號參數幅值輸入失效臨界態隱馬爾可夫模型,計算得到實際數據對應狀態相對于失效臨界態的KL值,得到退化參數的KL值曲線K1,然后擬合得到擬合曲線K2,通過理想退化仿真得到理想退化數據KL值的理想曲線K3,根據到理想曲線K3的歐式距離計算曲線K1和曲線K2的相似度,計算參照KL值F0,最后根據擬合曲線K2計算得到預測時刻的KL值F1,得到健康度,然后根據相似度得到預測時刻的最終預測健康度。經過實驗驗證可知,本發明可以實現電子產品健康度的準確預測。
聲明:
“基于退化曲線相似度的電子產品健康度預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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