本發明公開了一種半導體激光器芯片的測試系統,包括測試柜、測試電源、冷卻子系統、穩定監控子系統和計算機處理子系統;測試柜包括裝載平臺,多個待測試的芯片組件放置在裝載平臺上;測試電源用以多個待測試的芯片組件提供測試電流;冷卻子系統用于向裝載平臺提供循環冷卻液體,以為芯片組件的測試提供穩定可靠的溫度;溫度監控子系統用于監控裝載平臺和循環冷卻液體的溫度;計算機處理子系統用以控制冷卻子系統提供具有穩定可靠的溫度的循環冷卻液,并根據溫度監控子系統所監控的結果,向測試電源發出相應的控制指令。通過上述方式,本發明能夠高測試的安全性,避免因半導體激光器芯片組件意外失效帶來的損失。
聲明:
“半導體激光器芯片的測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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