本發明提供一種晶圓測試圖的顯示方法及系統,包括獲取晶圓抽樣測試后晶圓上若干芯片的屬性文件,接著通過一預設算法對所述屬性文件進行修正處理,獲取所述晶圓上的若干芯片的修正文件,然后根據所述修正文件生成修正晶圓測試圖并進行顯示。本發明通過修正晶圓上若干芯片的屬性文件,減少晶圓上相鄰測試芯片之間的距離,弱化未測試芯片的存在感,以增大測試芯片在設定晶圓測試圖顯示區域內的顯示面積,使已測試的芯片在晶圓測試圖中突出顯示,便于觀察。另外,由于集中顯示了測試芯片,便于觀測測試芯片中失效芯片的整體分布情況。
聲明:
“晶圓測試圖的顯示方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)