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    晶圓測試圖的顯示方法及系統

    1241   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:00:22
    本發明提供一種晶圓測試圖的顯示方法及系統,包括獲取晶圓抽樣測試后晶圓上若干芯片的屬性文件,接著通過一預設算法對所述屬性文件進行修正處理,獲取所述晶圓上的若干芯片的修正文件,然后根據所述修正文件生成修正晶圓測試圖并進行顯示。本發明通過修正晶圓上若干芯片的屬性文件,減少晶圓上相鄰測試芯片之間的距離,弱化未測試芯片的存在感,以增大測試芯片在設定晶圓測試圖顯示區域內的顯示面積,使已測試的芯片在晶圓測試圖中突出顯示,便于觀察。另外,由于集中顯示了測試芯片,便于觀測測試芯片中失效芯片的整體分布情況。
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