本公開涉及芯片測試方法、芯片參數設置方法及芯片,所述方法包括:以預設工作頻率作為待測芯片的工作頻率、以預設供電電壓作為待測芯片的初始供電電壓,對待測芯片進行測試;在待測芯片無法正常工作的情況下,以預設電壓值為步長在預設供電電壓基礎上逐漸提高供電電壓以對待測芯片進行測試,直到待測芯片能夠正常工作或供電電壓大于預設電壓閾值;在測試芯片能夠正常工作的情況下,設置變壓標識信息以指示測試芯片需要在預設供電電壓上增加電壓以得到正常工作時的供電電壓,并記錄測試芯片在正常工作時的供電電壓相對于所述預設供電電壓的增加電壓。本公開可以避免將待測芯片作為失效芯片丟棄的情況,從而挽救大量可用待測芯片,節約成本。
聲明:
“芯片測試方法、芯片參數設置方法及芯片” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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